CHRocodile CLS 2.0 Cover Glass Inspection

3D 計量 - 線感測器

CHRocodile CLS 2 高速 3D 彩色共焦線感測器

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用於智慧工廠高速檢測的彩色共焦線感測器

CHRocodile CLS 2.0 能夠幫助您以很高速測量大角度的複雜表面,並且無陰影。

高速 3D 彩色共焦線感測器幾乎可以對所有材料,甚至是難以測量的材料進行高度精確的測量,同時分辨率很高。這種感測器的通用性確保能夠成功完成各種測量。

更重要的是,CHRocodile CLS 2.0 還有助於降低運營成本,節省時間,並確保工業 4.0 應用中的 100% 控制。除此之外,高速 3D 彩色共焦線感測器CHRocodile CLS 2.0 比其他替代設備更小、更輕。

 

安文頓根半導體產業:線接合檢查、凸點測量、包裝晶圓邊緣檢查、切割槽檢查、缺陷、芯片裂縫、光罩光刻

 

安文頓根消費電子:外殼形貌檢查,輕微、中等和高度彎曲表面的檢查、倒角和花鍵檢查、直徑/孔/梯形表面檢查、特殊高度物體的外觀檢查

 

Picture of products CHRocodile ClS 2.0 chromatic line sensor
Battery Inspection with CHRocodile CLS 2.0

優勢

  • 高速度、高精度
    利用 2160 萬個測量點和每秒高達 36000 行的掃描速度,CHRocodile CLS 2.0 非常適合對測量周期時間要求極高的在線品質控制應用。此外,這種感測器提供的資料具有很高的橫向和軸向分辨率,可實現精密測量。
  • 高度靈活
    這種彩色共焦線感測器的通用性可以滿足各種測量需求,例如,形貌結構和厚度測量、成分、多層結構、透明材料下的表面以及複雜的幾何形狀。即使是難以測量的材料,例如擴散表面、粗糙表面、彩色表面、拋光表面或反射表面,CHRocodile CLS 2.0 也能高速地進行準確測量。
  • 無陰影
    CHRocodile CLS 2.0 的線性設定與入射光和反射光重疊。因此,在測量特定的幾何形狀時,不會出現任何問題,而三角形佈置則會出現陰影問題。
  • 易於更換的光學探頭
    該感測器配置了三個易於更換的光學探頭,僅需輕鬆轉換即可使用適合各種測量需求的探頭。您可以選擇最長達 12 mm 的線,用於大型零件的快速檢測,或者選擇優質數值孔徑的短線,用於測量高度傾斜的表面,例如測量智慧型手機、電池或手錶顯示玻璃的倒角。
  • 點密度高
    CHRocodile CLS 2.0 以每行 1200 個點的密度來掃描物體。結合與像素間距相當的橫向高分辨率和良好的軸向分辨率,可以獲得高密度的必要資料和優質的測量結果。

技術資料

  • 測量速度:最高達每秒 36000 行
  • 測量範圍:680 - 10600 µm*
  • 橫向分辨率:1 - 8.5 µm*
  • 與外部設備同步:觸發輸入,同步輸出,5 個編碼器輸入,DLL 代碼示例

* 具體取決於使用的光學探頭

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