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Interferometrie an Seifenblasen

干涉測量

超精確的厚度和距離測量

干涉儀工作原理

當同一光源的兩個或多個路徑長度稍有不同的光束疊加時,干涉儀將利用此時產生的效應工作。

由此產生的光譜及其調製頻率包含了距離或層厚資料,具體情況取決於系統應用的測量任務。

透過計算光譜的傅立葉變換,可以確定速度高達 70 kHz 的測量。干涉測量法非常適用於大面積測量,因為測量的精度不受與物體的距離的影響。 

 

 

干涉感測器的優勢

  • 高速線上檢測,最高可達 70 kHz
  • 不受高溫、潮溼或震動條件的影響,因此適用於惡劣的工業環境,即使在水、油或酸等液體中也沒有問題/li>
  • 適用於品質保證、表面和厚度測量
  • 此光學技術是唯一可以測量多層夾層玻璃的獨特方案
  • 對 0.6 - 15,000 µm 的厚度測量非常精確 
  • 適合所有紅外透射材料的厚度測量,例如晶圓檢測過程中的測量
  • 靜態或移動測量點 
  • 被動光學探頭 —— 結構緊湊且被動、無磨損

如果您想了解有關干涉感測器的更多資訊,請参阅产品詳細資料页面。

干涉感測器

CHRocodile 2 IT

  • 超快速
  • 測量範圍大
  • 適用於不同表面
  • 探頭完全符合使用者的需求

CHRocodile 2 K

  • 塑料壁厚測量
  • 高精確度
  • 緊湊型設計
  • 探頭完全符合使用者的需求

飛點掃描器

  • 取代 X-Y 移動系統
  • 使用者可為任何材料設定個性化掃描路徑。
  • 節省時間和成本

光學計量中的其他技術

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