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Enovasense Field Sensor - rileva i difetti sotto la superficie

Immagine del prodotto Enovasense Field Sensor HR
  • Rileva i difetti all'interno e al di sotto dei rivestimenti
  • Crea contemporaneamente una mappatura dello spessore del rivestimento
  • Non distruttivo

     

     

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Flying Spot Scanner 310

  • Scanner ultraveloce con tempi di ciclo ridotti
  • Non sono richiesti assi lineari aggiuntivi
  • Misurazione di bow, warp TTV e controllo qualità in un'unica scansione

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Flying Spot Scanner 310 misura wafer con sensore CHRocodile 2 IT

CHRocodile 2 IT misure di spessore precise e veloci

Dettagli del prodotto CHRocodile 2 IT
  • Ultraveloce
  • Ampio campo di misurazione
  • Eccellente su superfici diverse
  • La sonda perfettamente adatta alle vostre esigenze

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Flying Spot Scanner

  • Sostituisce il sistema di movimento X-Y
  • Regola il vostro percorso di scansione per qualsiasi tipo di materiale
  • Risparmia tempo e denaro

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Area-sonda Flying Spot Scanner

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