
Cartografía óptica sin contacto de campo completo para topografía de obleas y control de arco
Este artículo de Photonics destaca cómo la metrología avanzada se está trasladando a la primera línea de la fabricación de semiconductores, permitiendo un control más estricto de los procesos en los nodos avanzados. Subraya la importancia de las soluciones de medición en línea de alta precisión, como las de Precitec 3D Metrology, paragarantizar el rendimiento, la velocidad y la fiabilidad en las fábricas modernas. El artículo completo (en inglés) puede leerse haciendo clic en este enlace.

Cartografía óptica sin contacto de campo completo para topografía de obleas y control de arco